涂層測(cè)厚儀探頭
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超聲波測(cè)厚儀
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F1探頭是磁性法測(cè)量的通用標(biāo)準(zhǔn)探頭，測(cè)量范圍0-1250um，基本覆蓋大部分涂層厚度范圍，也是TT260的標(biāo)配探頭。
涂層測(cè)厚儀F1探頭
- 工作原理：磁感應(yīng) | 分辨力：0.1um
- 測(cè)量范圍：0-1250um
- 示值誤差：
- 一點(diǎn)校準(zhǔn)：±[3%H+1]um
- 兩點(diǎn)校準(zhǔn)：±[(1～3)%H+1]um
- 測(cè)量條件:
- 最小曲率半徑：凸1.5mm
- 基體最小面積的直徑：Ф7mm
- 最小臨界厚度：0.5mm
- 探頭尺寸：Ф12X47mm
N1探頭是渦流法測(cè)量的通用標(biāo)準(zhǔn)探頭，測(cè)量范圍0-1250um，基本覆蓋大部分涂層厚度范圍，也是TT260的標(biāo)配探頭。
涂層測(cè)厚儀N1探頭
- 工作原理：電渦流 | 分辨力：0.1um
- 測(cè)量范圍：0-1250 | 銅上鍍鉻0-40um
- 示值誤差：
- 一點(diǎn)校準(zhǔn)：±[3%H+1]um
- 兩點(diǎn)校準(zhǔn)：±[(1～3)%H+1]um
- 測(cè)量條件:
- 最小曲率半徑：凸3mm
- 基體最小面積的直徑：Ф5mm
- 最小臨界厚度：0.3mm
- 探頭尺寸：Ф15X73mm
TT260選配F400探頭，主要用于較薄厚度的涂層測(cè)量，可獲得更精確的測(cè)量結(jié)果和更高的重復(fù)性，另外在管材基體直徑較小或者被測(cè)區(qū)域接觸面積較小時(shí)，F(xiàn)400探頭也是最佳的選擇。
涂層測(cè)厚儀F400探頭
- 工作原理：磁感應(yīng) | 分辨力：0.1um
- 測(cè)量范圍：0-400um
- 示值誤差：
- 一點(diǎn)校準(zhǔn)：±[3%H+1]um
- 兩點(diǎn)校準(zhǔn)：±[(1～3)%H+0.7]um
- 測(cè)量條件:
- 最小曲率半徑：凸1mm
- 基體最小面積的直徑：Ф3mm
- 最小臨界厚度：0.2mm
- 探頭尺寸：Ф12X55mm
TT260選配F10探頭，測(cè)量范圍由標(biāo)配的0-1250um擴(kuò)展至0-10000um，主要用于大厚度的涂層測(cè)量。選配F10探頭還應(yīng)增配2000um、4000um、8000um的標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)片，用于校準(zhǔn)儀器。
涂層測(cè)厚儀F10探頭
- 工作原理：磁感應(yīng) | 分辨力：10um
- 測(cè)量范圍：0-10000um
- 示值誤差：
- 一點(diǎn)校準(zhǔn)：±[3%H+10]um
- 兩點(diǎn)校準(zhǔn)：±[(1～3)%H+10]um
- 測(cè)量條件:
- 最小曲率半徑：凸10mm
- 基體最小面積的直徑：Ф40mm
- 最小臨界厚度：2mm
- 探頭尺寸：Ф27X47mm
TT260選配CN02探頭，主要用于測(cè)量線(xiàn)路板上的銅箔厚度，檢測(cè)范圍在10-200um之間。
涂層測(cè)厚儀CN02探頭
- 工作原理：電渦流 | 分辨力：1um
- 測(cè)量范圍：10-200um
- 示值誤差：
- 一點(diǎn)校準(zhǔn)：±[3%H+1]um
- 兩點(diǎn)校準(zhǔn)：—
- 測(cè)量條件:
- 最小曲率半徑：平直
- 基體最小面積的直徑：Ф7mm
- 最小臨界厚度：無(wú)限制
- 探頭尺寸：Ф16X67mm
TT260選配F1/90探頭，主要用于管材內(nèi)壁的涂層厚度測(cè)量。它細(xì)長(zhǎng)的身形可以輕松的深入其它探頭無(wú)法到達(dá)的細(xì)管中。夾層和細(xì)縫中的涂層厚度測(cè)量也是它的拿手好戲。
涂層測(cè)厚儀F1|90探頭
- 工作原理：磁感應(yīng) | 分辨力：0.1um
- 測(cè)量范圍：0-1250um
- 示值誤差：
- 一點(diǎn)校準(zhǔn)：±[3%H+1]um
- 兩點(diǎn)校準(zhǔn)：±[(1～3)%H+1]um
- 測(cè)量條件:
- 最小曲率半徑：平直
- 基體最小面積的直徑：Ф7mm
- 最小臨界厚度：0.5mm
- 探頭尺寸：Ф7.5X11X200mm